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X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门

综合评级:
★★★★★

定价:
¥38.60

作者:
郑振环

出版社:
中国建材工业

出版日期:
2016/06/01

页数:
113

ISBN:
9787516014561

书籍介绍

《x射线多晶衍射数据rietveld精修及gsas软件入门》一书具有很强的实用性,可以作为材料、化学以及地质等领域学习x射线多晶衍射rietveld法结构精修和gsas软件的研究人员的入门参考书,也可以作为本科生、研究生教学的实验教材。

rietveld法全谱拟合已成为x射线多晶衍射修正晶体结构的重要方法。本书共分为四章,侧重从操作示例介绍rietveld法的基本原理和精修过程。

第1章简要介绍rietveld法的发展概况和基本原理。

第2章介绍精修软件expgui-gsas的安装和使用界面。

第3章介绍rietveld法x射线多晶衍射数据的实验测试,并以简单例子演示expgui-gsas精修过程以及结果的提取和图谱绘图。

第4章给出了三个提高练习示例,包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。

目录

第1章 Rietveld法结构精修

 1.1 Rietveld法结构精修发展概况

 1.2 Rietveld法基本原理

 1.3 参数修正顺序与结果判据

  1.3.1 参数修正的顺序

  1.3.2 精修的数值判据

  1.3.3 精修的图示判断

 1.4 精修过程出现的问题和对策

 1.5 Rietveld法结构精修的应用

  1.5.1 修正晶体结构

  1.5.2 相变研究和点阵常数测定

  1.5.3 物相定量分析

  1.5.4 晶粒尺寸和微应变测定

第2章 EXPGUI-GSAS软件安装与界面介绍

 2.1 GSAS软件简介

 2.2 EXPGUI-GSAS软件的安装

 2.3 EXPGUI-GSAS软件界面介绍

  2.3.1 菜单栏

  2.3.2 选项卡界面

  2.3.3 EXPGUI帮助内容

第3章 EXPGUI-GSAS结构精修起步

 3.1 精修前的准备工作

  3.1.1 衍射数据的测定

  3.1.2 衍射数据的转换

  3.1.3 初始结构的获取

 3.2 EXPGUI精修简单示例

  3.2.1 生成EXP文件

  3.2.2 精修过程

  3.2.3 常见问题

 3.3 精修结果提取与绘图

  3.3.1 精修结果提取

  3.3.2 精修图谱绘图

第4章 EXPGUI-GSAS提高练习

 4.1 仪器参数文件的建立

  4.1.1 基本知识

  4.1.2 操作过程

 4.2 物相(含非晶)定量分析

  4.2.1 基本原理

  4.2.2 衍射数据测试

  4.2.3 精修过程

 4.3 Le Bail法拟合以及约束的使用

  4.3.1 问题描述

  4.3.2 精修过程

参考文献