第1章　Rietveld法结构精修

　1.1　Rietveld法结构精修发展概况

　1.2　Rietveld法基本原理

　1.3　参数修正顺序与结果判据

　　1.3.1　参数修正的顺序

　　1.3.2　精修的数值判据

　　1.3.3　精修的图示判断

　1.4　精修过程出现的问题和对策

　1.5　Rietveld法结构精修的应用

　　1.5.1　修正晶体结构

　　1.5.2　相变研究和点阵常数测定

　　1.5.3　物相定量分析

　　1.5.4　晶粒尺寸和微应变测定

第2章　EXPGUI-GSAS软件安装与界面介绍

　2.1　GSAS软件简介

　2.2　EXPGUI-GSAS软件的安装

　2.3　EXPGUI-GSAS软件界面介绍

　　2.3.1　菜单栏

　　2.3.2　选项卡界面

　　2.3.3　EXPGUI帮助内容

第3章　EXPGUI-GSAS结构精修起步

　3.1　精修前的准备工作

　　3.1.1　衍射数据的测定

　　3.1.2　衍射数据的转换

　　3.1.3　初始结构的获取

　3.2　EXPGUI精修简单示例

　　3.2.1　生成EXP文件

　　3.2.2　精修过程

　　3.2.3　常见问题

　3.3　精修结果提取与绘图

　　3.3.1　精修结果提取

　　3.3.2　精修图谱绘图

第4章　EXPGUI-GSAS提高练习

　4.1　仪器参数文件的建立

　　4.1.1　基本知识

　　4.1.2　操作过程

　4.2　物相（含非晶）定量分析

　　4.2.1　基本原理

　　4.2.2　衍射数据测试

　　4.2.3　精修过程

　4.3　Le Bail法拟合以及约束的使用

　　4.3.1　问题描述

　　4.3.2　精修过程

参考文献